詳細(xì)資料

ED300渦流測(cè)厚儀詳細(xì)介紹
應(yīng)用范圍
ED300型渦流測(cè)厚儀，用于檢測(cè)各種非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化層或涂層。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速無(wú)損的膜厚檢查。可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

儀器特點(diǎn)
* 膜厚校正片
膜厚校正片是儀器的計(jì)量基準(zhǔn)。本儀器的膜厚校正片全部經(jīng)過(guò)技術(shù)監(jiān)督部門(mén)的檢測(cè)，附有檢測(cè)報(bào)告。這一點(diǎn)在國(guó)內(nèi)外儀器中都是不多見(jiàn)的。它保證了儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性。
* 探頭
測(cè)厚儀*容易損壞的部件是探頭，本儀器對(duì)探頭做了特殊的耐久性設(shè)計(jì)，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。
* 探頭線
由于儀器使用頻率很高，探頭線成為易損件。一般國(guó)產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會(huì)出現(xiàn)故障，多數(shù)問(wèn)題出在探頭線上。
天星測(cè)厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線*初用于機(jī)器人，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬(wàn)次的曲折。實(shí)踐證明，這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。
* 久經(jīng)考驗(yàn)
鋁型材行業(yè)是使用環(huán)境*惡劣的，對(duì)膜厚檢測(cè)的要求也*高，通常要求對(duì)每根型材測(cè)試兩端的膜厚。測(cè)厚儀每天可能測(cè)試上千次。探頭還要時(shí)常受到水或氧化槽液的侵蝕，磕磕碰碰時(shí)有發(fā)生。目前國(guó)產(chǎn)渦流測(cè)厚儀有多個(gè)品牌，但是只有天星測(cè)厚儀 ED300 及早期產(chǎn)品 ED200 是可以在這種場(chǎng)合長(zhǎng)期使用的。目前幾乎每一家鋁型材廠都在使用天星測(cè)厚儀，而其他國(guó)內(nèi)品牌，加上進(jìn)口儀器的總使用量還不及天星儀器的 1/3。以上足以說(shuō)明天星測(cè)厚儀性能之優(yōu)良。鋁型材行業(yè)用得住的測(cè)厚儀，在其他行業(yè)應(yīng)用應(yīng)該毫無(wú)問(wèn)題。
天星測(cè)厚儀經(jīng)歷了十幾年在惡劣條件下使用的考驗(yàn)。十幾年來(lái)我們一直在努力進(jìn)行改進(jìn)和完善，它是一種性能優(yōu)良、可靠實(shí)用的儀器。
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1臺(tái)
膜厚校正片 1套 （4片）
校正基體 1塊
儀器箱 1個(gè)
可選附件
膜厚校正片 （12μm/25μm/50μm/100μm附檢測(cè)報(bào)告)
校正基體 6063鋁合金
ED300渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
量程： 0～150μm； 精 度： ±3%； 分辨率：0.1μm；
功耗： 0.06W； 外形尺寸： 150mm×80mm×30mm； 重 量： 280g。